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  • 計算機控制塑料電氣強度試驗儀HCDJC-20KV
    計算機控制塑料電氣強度試驗儀HCDJC-20KV

    更新時間:2025-05-29

    型號:

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    華測計算機控制塑料電氣強度試驗儀HCDJC-20KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法 第1部分;工頻下試驗》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測定法》、GB/T1981及ASTM D149標準要求設計制造。
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  • 擊穿強度測試儀-100KV
    擊穿強度測試儀-100KV

    更新時間:2025-05-29

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    擊穿強度測試儀-100KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法 第1部分;工頻下試驗》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測定法》、GB/T1981及ASTM D149標準要求設計制造。
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  • 固體絕緣材料工頻電壓擊穿強度試驗儀
    固體絕緣材料工頻電壓擊穿強度試驗儀

    更新時間:2025-04-07

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    華測固體絕緣材料工頻電壓擊穿強度試驗儀HCDJC-100KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法 第1部分;工頻下試驗》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測定法》、GB/T1981及ASTM D149標準要求設計制造。
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  • 陶瓷耐電壓擊穿強度試驗儀HCDJC-100KV
    陶瓷耐電壓擊穿強度試驗儀HCDJC-100KV

    更新時間:2025-04-07

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    華測計算機控制陶瓷耐電壓擊穿強度試驗儀HCDJC-100KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法 第1部分;工頻下試驗》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測定法》、GB/T1981及ASTM D149標準要求設計制造。
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  • 樹脂、絕緣漆電壓擊穿試驗儀HCDJC-100KV
    樹脂、絕緣漆電壓擊穿試驗儀HCDJC-100KV

    更新時間:2025-04-07

    型號:

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    華測樹脂、絕緣漆電壓擊穿試驗儀HCDJC-100KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法 第1部分;工頻下試驗》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測定法》、GB/T1981及ASTM D149標準要求設計制造。
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  • 絕緣材料擊穿電壓試驗儀 HCDJC-100KV
    絕緣材料擊穿電壓試驗儀 HCDJC-100KV

    更新時間:2025-04-07

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    絕緣材料擊穿電壓試驗儀 HCDJC-100KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法 第1部分;工頻下試驗》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測定法》、GB/T1981及ASTM D149標準要求設計制造。
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  • 陶瓷玻璃耐電壓擊穿試驗儀HCDJC-100KV
    陶瓷玻璃耐電壓擊穿試驗儀HCDJC-100KV

    更新時間:2025-04-07

    型號:

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    華測計算機控制陶瓷玻璃耐電壓擊穿試驗儀HCDJC-100KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強度試驗方法 第1部分;工頻下試驗》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測定法》、GB/T1981及ASTM D149標準要求設計制造。
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  • HCRD-300華測薄膜擊穿電弱點測試儀器--鋰電池隔膜
    HCRD-300華測薄膜擊穿電弱點測試儀器--鋰電池隔膜

    更新時間:2024-12-16

    型號:HCRD-300

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    華測薄膜擊穿電弱點測試儀器--鋰電池隔膜,該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進行電弱點的測試,測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設定,無須將膜分切成小卷,免除了許多外來因素對測試結果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實地反映薄膜的質量水平。測試過程采用電子技術全自動控制,遇到電弱點時電壓切斷動作迅速。擊穿電流在0~40mA連續(xù)可調,復現(xiàn)性好。
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