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絕緣材料測試儀器

高阻計(jì) 擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀高溫直流測試系統(tǒng)

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Huace-300表面體積電阻率測試儀-表面電阻量測儀-華測

更新時(shí)間：2025-07-29

型號(hào)：Huace-300

瀏覽量：3664

表面體積電阻率測試儀-表面電阻量測儀-華測儀器既可測量高電阻，又可測微電流。測量jing度達(dá)到3‰。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有jing度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。
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Huace-300數(shù)顯式表面體積電阻率（高阻計(jì)）

更新時(shí)間：2025-07-29

型號(hào)：Huace-300

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Huace-300型數(shù)顯式表面體積電阻率（高阻計(jì)）本儀器既可測量高電阻，又可測微電流。測量精度達(dá)到3‰。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。
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華測儀器HCDH-3計(jì)算機(jī)控制優(yōu)質(zhì)耐電弧試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-12-31

型號(hào)：

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華測儀器HCDH-3計(jì)算機(jī)控制優(yōu)質(zhì)耐電弧試驗(yàn)儀裝置適應(yīng)于電機(jī)、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆、以及層壓板、覆銅箔板等絕緣材料等介質(zhì)的耐電弧測試；耐電弧試驗(yàn)機(jī)采用計(jì)算機(jī)控制，試驗(yàn)過程中可在線觀察試驗(yàn)曲線；自動(dòng)存儲(chǔ)試驗(yàn)條件及試驗(yàn)結(jié)果等數(shù)據(jù)，并可存取、顯示、打印。
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Huace-300表面體積電阻率測試儀廠家-北京華測

更新時(shí)間：2025-07-29

型號(hào)：Huace-300

瀏覽量：3831

表面體積電阻率測試儀廠家-北京華測儀器體積小、重量輕、本儀器具有jing度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)，既可測量高電阻，又可測微電流。
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HCJDCS-G電容器薄膜工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

更新時(shí)間：2024-08-26

型號(hào)：HCJDCS-G

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變壓器工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀：主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。于電橋內(nèi)附有一個(gè)2500KV的高壓電源及一臺(tái)高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器，并將副橋和檢流計(jì)與高壓電橋有機(jī)的結(jié)合在一起，特別適應(yīng)測量各類絕緣油和絕緣材料的介損（tgδ）及介電常數(shù)（ε）。電容器薄膜工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
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華測絕緣材料耐電弧試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-12-31

型號(hào)：

瀏覽量：2695

電器設(shè)備的絕緣物經(jīng)常要遭受從數(shù)萬安培到數(shù)毫安，連續(xù)的或間斷的大電流或小電流的電弧作用。精度高的輸出與測量規(guī)格，保障測度的器質(zhì)，適用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓下耐電弧行的測試，也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。華測絕緣材料耐電弧試驗(yàn)儀
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華測-體積小重量輕可測薄膜高阻計(jì)測試儀器

更新時(shí)間：2024-08-30

型號(hào)：

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華測-體積小重量輕可測薄膜高阻計(jì)測試儀器采用低溫漂系數(shù)極低的電阻，肖特基高壓溫壓二極管。既可測量高電阻，又可測微電流。測量精度達(dá)到 3%。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。
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HCRD-300化工塑料薄膜鋰離子電池隔膜用電弱點(diǎn)測試儀

更新時(shí)間：2024-12-16

型號(hào)：HCRD-300

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HCRD-300型電弱點(diǎn)測試儀，主要應(yīng)用于新能源汽車用鋰離子電池隔膜電氣絕緣缺陷檢測。化工塑料薄膜鋰離子電池隔膜用電弱點(diǎn)測試儀主要用于鋰離子電池隔膜、電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測試。該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試，測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響。
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