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  • COMTESSE熱電測(cè)試儀器
    COMTESSE熱電測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2023-08-07

    型號(hào):COMTESSE

    瀏覽量:1995

    熱電測(cè)試儀器主要用于熱電測(cè)試。包括:熱導(dǎo)率thermal conductivity, 電導(dǎo)率electrical conductivity, Harman ZT等隨溫度的變化。
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  • 熱釋電測(cè)試儀  華測(cè)儀器
    熱釋電測(cè)試儀 華測(cè)儀器

    更新時(shí)間:2024-08-29

    型號(hào):

    瀏覽量:2786

    熱釋電測(cè)試儀 華測(cè)儀器主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電測(cè)試。 薄膜材料變溫范圍:-196℃到+600℃; 塊體材料變溫范圍:室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃、-100℃到+600℃、-184℃到+315℃五種夾具可選。
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  • 鐵電自放電測(cè)試儀/參數(shù)分析儀
    鐵電自放電測(cè)試儀/參數(shù)分析儀

    更新時(shí)間:2024-06-04

    型號(hào):

    瀏覽量:1642

    鐵電自放電測(cè)試儀/參數(shù)分析儀主要用來(lái)研究電介質(zhì)材料的自漏電性。由于測(cè)試條件非常接近實(shí)際情況,因此通過這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。
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  • huaceCMA陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀
    huaceCMA陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2023-08-07

    型號(hào):huaceCMA

    瀏覽量:1436

    陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀本設(shè)備專門用于陶瓷多層執(zhí)行器在動(dòng)態(tài)加載力和靜態(tài)加載力條件下的研究,并且可以從室溫到200℃的測(cè)試。
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  • TSDC熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀器
    TSDC熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):TSDC

    瀏覽量:4110

    熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀器系統(tǒng)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電外,還可以用于測(cè)試材料的熱激發(fā)極化電流TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)。
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  • huacePES-Cryo低溫塊體壓電分析儀/其他
    huacePES-Cryo低溫塊體壓電分析儀/其他

    更新時(shí)間:2023-08-07

    型號(hào):huacePES-Cryo

    瀏覽量:1503

    低溫塊體壓電分析儀/其他主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電和機(jī)電的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到-100℃到+600℃。
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  • aixPES-600/800高溫塊體壓電參數(shù)分析儀
    aixPES-600/800高溫塊體壓電參數(shù)分析儀

    更新時(shí)間:2024-06-13

    型號(hào):aixPES-600/800

    瀏覽量:1663

    高溫塊體壓電參數(shù)分析儀本系統(tǒng)主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的電和機(jī)電的表征。 壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度范圍。
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  • 壓電材料綜合表征系統(tǒng)aixPES測(cè)試儀器
    壓電材料綜合表征系統(tǒng)aixPES測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2023-08-07

    型號(hào):

    瀏覽量:1597

    壓電材料綜合表征系統(tǒng)aixPES測(cè)試儀器本系統(tǒng)主要用于壓電塊體陶瓷樣品的電和機(jī)電的表征。大信號(hào)和小信號(hào)材料的特征可以在一定溫度范圍內(nèi)表征。樣品上的電流響應(yīng)測(cè)量是通過虛擬接地方法衡量電壓激勵(lì)信號(hào)。樣品的微位移同時(shí)通過激光干涉儀進(jìn)行測(cè)量。
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